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产品详细
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    点击次数:464  更新时间:2019-03-22   【打印此页】  【关闭

    产品说明、技术参数及配置

    EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
    该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
    另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

    性能特点

    高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
    最新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
    SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
    低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
    智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
    自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
    高信噪比的电子线路单元
    针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
    解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
    多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
    内置高清晰摄像头
    液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

    技术参数

    产品型号:EDX 4500H
    产品名称:X荧光光谱仪
    测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
    元素含量分析范围: ppm—99。99%(不同元素,分析范围不同)
    同时分析元素:一次性可测几十种元素
    测量时间:30秒-200秒
    探测器能量分辨率为:145±5eV
    管压:5KV-50KV
    管流:50μA-1000μA
    测量对象状态:粉末、固体、液体
    输入电压:AC 110V/220V
    环境温度:15℃-30℃
    环境湿度:35%-70%
    样品腔体积:320mm×100mm
    外形尺寸:660mm×510mm×350mm
    重量:65Kg

    标准配置

    高效超薄窗X光管
    SDD硅漂移探测器
    数字多道技术
    光路增强系统
    高信噪比电子线路单元
    内置高清晰摄像头
    自动切换型准直器和滤光片
    自动稳谱装置
    三重安全保护模式
    可靠的整体钢架结构
    90mm×70mm的状态显示液晶屏
    真空泵

    应用领域

    有害元素检测(RoHS、卤素)
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